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SE-VE光譜橢偏儀 詳細摘要: SE-VE光譜橢偏儀本設備基于單旋轉補償器調制技術一次性獲取Psi/Delta、N/C/S、反射率等光譜,可實現基底上單層到多層薄膜的膜厚、光學常數的快速分析表...
產品型號: 所在地:深圳市 更新時間:2025-04-26 參考價: 面議 在線留言
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深圳東儀精工設備有限公司
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詳細摘要: SE-VE光譜橢偏儀本設備基于單旋轉補償器調制技術一次性獲取Psi/Delta、N/C/S、反射率等光譜,可實現基底上單層到多層薄膜的膜厚、光學常數的快速分析表...
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